Eurostars - ITERA

Integrative Test-Methodik für RFID-Anwendungen (ITERA)

Kompetenzfeld Fahrzeugmechatronik (Softwareengineering)
Prof. Dr. rer. nat. Christian Facchi
Dipl-Inf. (FH) Andreas Hübner
Dipl.-Wirtschaftsing. (FH) Christian Bacherler

Telefon: (0841) 9348-365
christian.facchi@_we_dont_like_spam_haw-ingolstadt.de

EUREKA Eurostars (Cut-Off 4)

Bundesministerium für Bildung und Forschung

Problemstellung:

RFID (Radio Frequency IDentification) hat sich als Automatisierungs-Technologie im Logistiksektor seit Jahren etabliert, um einerseits Qualität, Sicherheit und Transparenz von Prozessen zu verbessern und andererseits die Möglichkeit für Rationalisierung und Kostensenkung zu bieten.

  • Eine Hürde für KMUs sind aber die hohen Implementierungskosten. Rund 50% der Kosten für Automatisierungssysteme, welche hier als Plattformtechnologie für RFID gesehen wird, entfallen auf die Software, Tendenz steigend. Außerdem entfallen wiederum 60% bis sogar 80% der Gesamtkosten im Bereich der hochverfügbaren Softwaresysteme auf das Testen der Software.
  • Es existieren Methodiken zum Testen von Automatisierungs-, genauer Mechatroniksystemen und zum Testen von reinen Softwareapplikationen. Eine spezielle Testmethodik allerdings, die die Hard- und Software-Spezifika von RFID-Systemen berücksichtigt, existiert noch nicht.

Zielsetzung:

Entwicklung einer Methodik zum Testen von RFID Applikationen

Durchführung:

ITERA verfolgt zunächst die Untersuchung, Anwendung und Integration von existierenden Techniken und Werkzeugen, sowie die Entwicklung einer Methodik zur Anwendung von generischen und reproduzierbaren Testszenarios für RFID-Anwendungen. Die anvisierte Methodik kann grob, wie folgt skizziert werden:

  • Modultests für Softwarekomponenten, durchgeführt mit Hilfe von vorhandenen Frameworks wie JUnit oder NUnit.
  • Integrationstest (Bottom-Up) für die verwendeten RFID-Hardwarekomponenten. Dient der Sicherstellung, dass die Funktion der Komponenten und Übertragungswege gegeben ist.
  • Fokus sind Integrationstests (Top-Down), rein für Softwarekomponenten mithilfe der zuvor definierten, virtuellen RFID-Komponenten. Ziel ist es, dem Entwickler der Anwendungssoftware ein Mittel an die Hand zu geben, mit dem er Testläufe ohne jegliche RFID- bezogene Hardware ausführen kann.
  • Systemtest der vollständig aufgesetzten RFID-Systemumgebung.

Kooperationspartner